近日，環境可靠性試驗設備品牌皓天鑫與國內半導體企業完成簽約，達成設備采購合作。本次簽約的高低溫試驗箱，將部署于客戶芯片可靠性實驗室，用于集成電路、功率芯片量產階段的環境應力篩選測試，助力國產芯片品質管控體系升級。

隨著半導體產業快速發展，芯片集成度持續提升，封裝焊點、內部電路對溫度應力愈發敏感。芯片在車載、工業控制等場景服役時，長期承受高低溫交替沖擊，極易出現封裝分層、虛焊、電氣參數漂移等隱性缺陷。高低溫循環篩選作為芯片出廠關鍵質控工序，通過模擬溫度交變環境，加速激發產品早期失效問題，提前剔除不合格樣品，對試驗設備控溫精度、溫場均勻性與長時間連續運行能力提出嚴苛標準。

本次配套的皓天鑫高低溫試驗箱，針對半導體無塵實驗室場景優化設計，滿足 JEDEC JESD22、GB/T 2423 等可靠性測試標準。設備具備寬溫度調節區間，溫場波動小，支持可編程循環試驗，可長時間不間斷穩定運行，精準復現芯片各類極限工況，為芯片工藝迭代、失效分析提供可追溯、高重復性的試驗數據。內膽采用無塵不銹鋼結構，減少粉塵析出，適配封裝芯片批量同步篩選需求。

客戶經過多輪方案評估與設備性能對比，認可皓天鑫在環境試驗裝備領域的技術積累與全周期服務能力，最終選定本次高低溫環境測試解決方案。項目落地階段，皓天鑫技術團隊將負責設備進場安裝、調試校準與人員操作培訓，保障設備快速投入芯片篩選試驗。

此次合作是皓天鑫在半導體可靠性測試領域的又一次落地。未來，皓天鑫將持續深耕芯片測試場景，不斷優化環境試驗設備性能，為更多半導體企業提供穩定可靠的可靠性測試裝備，助力國內半導體產業鏈高質量發展。