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JESD22-A119A-2015低溫存儲壽命試驗
  • 日期:2022-05-20      瀏覽次數:1255
    • JESD22-A119A-2015低溫存儲壽命試驗

      說明:在不加任何偏壓情況下,藉由模擬低溫環境評定產品于長時間承受與對抗低溫的能力,此試驗過程不施加偏壓,試驗結束后回到常溫才能夠進行電性測試

      推薦設備:TEC

      IEC 60068-2-3 試驗方法 Ca:穩態濕熱

      1.測試目的:

      本試驗法之目的在決定元件、裝備或其它產品于定溫(constant temperature)、高相對濕度環境下操作及儲存的適應性。

      2.范圍

      本試驗法可同時適用于生熱(heat-dissipating)及不生熱(non heat -dissipating)試件。

      3.無限制。

      4.測試步驟:

      4.1 試件于試驗前應依相關規范之規定執行目視檢查、電性及機械檢驗。

      4.2 試件放入試驗柜中之情況必須符合相關規范,試件入柜后為避免在試件上形成水珠,最好事先將試件溫度預熱至試驗柜中之溫度條件。

      4.3 試件依規定之駐留加以保溫。